웨비나 공지사항: 테스캔 솔라리스 X로 반도체 분석 마스터하기

반도체 분야에서 분석의 수준을 높여보세요.

반도체 산업이 통합, 집적화, 소형화라는 더 큰 업적을 향해 달려가고 있는 지금, 시대를 앞서가는 것은 필수입니다. 반도체 샘플 분석에 대한 접근 방식을 바꿀 새로운 웨비나에 여러분을 초대하는 2024년 3월 5일을 달력에 표시해 두세요.

웨비나 제목: "테스캔 솔라리스 X로 반도체 딥크로스 섹션, Ga+ 프리 TEM 샘플 및 지연 처리량과 품질 향상"

 

날짜 및 시간 2024년 3월 5일, 오전 9시부터 오후 5시까지

강력한 무언가

독자에게 더 많은 정보 전달

헤드라인과 서브헤더를 통해 어떤 제품을 제공하는지 알 수 있으며, 양식 헤더를 통해 거래를 성사시킬 수 있습니다. 여기에서는 양식을 작성할 가치가 있을 만큼 훌륭한 제안을 제공하는 이유를 설명할 수 있습니다.

기억하세요:

  • 총알은 훌륭합니다
  • 혜택
  • 방문자를 리드로 전환하세요.

예상되는 사항: 

  • 산업 진화 인사이트: 반도체 업계가 추구하는 소형화 및 고밀도 통합에 대한 포괄적인 이해를 얻으세요. 이러한 트렌드가 디바이스의 기능, 속도, 전력 소비를 어떻게 재편하고 있는지 알아보세요.
  • 기술 심층 분석: Ga+ 이온 노출의 부작용 없이 빠른 대면적 단면 분석과 시료 전처리를 수행할 수 있는 뛰어난 성능을 자랑하는 시스템인 TESCAN SOLARIS X에 대해 자세히 알아보세요.
  • 실제 데모: OLED 디스플레이 구성 요소부터 14nm FinFET CPU 재료 등에 이르기까지 다양한 복잡한 샘플을 처리하는 TESCAN SOLARIS X의 숙련도를 보여주는 라이브 데모를 경험해 보세요.

 

가입해야 하는 이유: 

반도체 분석의 최신 발전부터 처리량과 품질 향상을 위한 올바른 도구 데모까지, 참가자들은 반도체 샘플 분석의 과제를 극복하는 데 유용한 통찰력을 얻을 수 있습니다. 

테스캔 솔라리스 X로 반도체 분석 워크플로우를 향상시킬 수 있는 이 기회를 놓치지 마세요.

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테스칸 그룹의 제품 마케팅 매니저인 루카스 흘라딕이 주최하는 이 온라인 이벤트에서는 패키지 레벨 고장 분석을 위한 딥섹션 및 최고 해상도 엔드포인팅을 위한 플라즈마 FIB-SEM 플랫폼인 테스칸 솔라리스 X의 강력한 기능을 공개할 예정입니다.