배터리 특성 분석을 위한 3D ToF-SIMS 단층 촬영 활용
완전 자동화된 3D FIB-SEM 단층 촬영과 통합된 ToF-SIMS 분석을 사용하여 배터리 구성 요소의 국소적 형태와 화학적 상태 사이의 복잡한 관계를 밝혀냅니다. 기존의 ToF-SIMS 깊이 프로파일링과 달리 3D ToF-SIMS 단층 촬영은 정확한 체적 화학 데이터를 제공하므로 배터리 재료의 구성 및 지형적 이질성으로 인한 한계를 극복할 수 있습니다.
배터리 특성 분석을 발전시키고 전극 내 입자, 바인더, 다공성, 리튬 및 기타 요소의 분포를 자세히 살펴보세요.
대규모 단면 분석으로 배터리 특성화 및 마스터 피하 표면 분석 향상
밀리미터 단위에서도 포괄적인 표면하 분석 및 특성화를 통해 배터리 재료에 대한 통계적 평가를 향상시킵니다. 테스칸의 최첨단 Xe plasma FIB 기술인 True X-Sectioning 및 Rocking Stage를 활용하여 배터리 전극 단면에서 흔히 관찰되는 고르지 않은 커튼 효과를 최소화함으로써 단면 준비를 가속화하고 품질을 향상시킬 수 있습니다.
올인원 현미경 시스템으로 배터리 재료에 대한 맞춤형 분석 워크플로우 구축
단일 현미경 장비 내에서 다양한 분석 기법을 상호 연관시켜 배터리 공정 및 구성에 대한 포괄적인 통찰력을 얻을 수 있습니다. 초고해상도 SEM 관찰과 상, 원소 및 화학적 상태 분석을 통합 EBSD, EDS, ToF-SIMS 및 라만 분광법과 결합하여 배터리 재료의 표면 및 표면 아래 2D/3D 특성화를 위한 맞춤형 분석 워크플로우를 생성할 수 있습니다. 또한 FIB 기술을 사용하여 배터리 샘플에서 관심 있는 특정 표면 아래 영역에 액세스할 수 있습니다.
FIB 처리 및 특성화를 위한 배터리 샘플 보호
리튬 기반 배터리 샘플의 안전을 보장하려면 불활성 가스 이송 시스템을 활용하세요. 이렇게 하면 글러브 박스와 현미경 진공실 사이를 이송하는 동안 공기와 습기에 노출되는 것을 방지할 수 있습니다. 극저온 조건을 적용하면 이온 빔에 민감한 시료의 손상을 줄이고 FIB 밀링 공정 중 재료 재증착을 최소화할 수 있습니다.
