다양한 샘플 형상에서 우수한 이미지 품질을 위한 최적화된 획득 궤적
TESCAN의 마이크로 CT 시스템은 최대 11개의 자유도를 제공하여 다양한 스캔 궤적을 통해 다양한 샘플 모양과 유형에 맞게 수집을 최적화할 수 있습니다. 원통형 셀의 상단과 하단 가장자리에 존재하는 콘빔 아티팩트를 제거하기 위해 특수 스캐닝 체제가 구현됩니다.
나선형 또는 스택형 획득 궤적의 통합으로 배터리 셀의 양극 돌출부 및 기타 수평적 특징을 고품질로 조사할 수 있습니다. 테스칸의 확장형 콘 빔 CT™는 평평하고 밀도가 높은 샘플의 아티팩트 없는 재구성을 보장합니다. 오프셋 스캐닝 또는 검출기 타일링을 활용하여 수평 시야를 두 배로 늘려 큰 샘플을 스캔하거나 작은 복셀 크기로 분석 볼륨을 최대화할 수 있습니다.
micro-CT의 서브 마이크론 해상도로 아주 작은 디테일까지 밝혀냅니다.
첨단 나노 초점 X-선 소스, 정밀한 스테이지, 고품질 디텍터를 갖춘 micro-CT 시스템은 600nm까지 공간 해상도를 달성합니다. 다양한 기술을 통합하여 배터리 재료와 내부 구조를 미크론 이하 수준에서 세밀하게 분석할 수 있습니다.
모든 하드웨어와 소프트웨어 구성 요소를 스마트하게 동기화하여 놀라운 속도로 최고의 해상도로 데이터 세트를 생성합니다.
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온전한 세포에 대한 멀티스케일 분석을 위한 관심 영역 스캔(VOI™)
TESCAN VOIs™는 클릭 몇 번으로 멀티스케일 분석을 간소화합니다. 전체 셀을 몇 분 안에 고품질로 스캔할 수 있으므로 고밀도 또는 저밀도 내포물, 전극 박리 또는 균열과 같은 결함 및 기타 관심 있는 특징을 찾아낼 수 있습니다.
통합된 마이크로 포지셔닝 스테이지와 함께 테스캔의 마이크로 CT 스캐너 내부의 절대 좌표계는 재구성된 데이터 세트에서 이러한 영역을 쉽게 찾아내어 자동으로 위치를 조정하고 배율을 높일 수 있게 해줍니다.
TESCAN VOIs™는 뛰어난 해상도와 이미지 품질로 모든 주요 구성품에 대한 빠른 멀티스케일 검사를 지원합니다. 1 - 2 - 스캔만큼 간단합니다.
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