7월 29일부터 8월 1일까지 미국 오하이오주 클리블랜드에서 열리는 현미경 및 미세분석(M&M) 2024 컨퍼런스에 참가하게 된 것을 기쁘게 발표합니다.
이 존경받는 행사는 현미경 및 미세 분석 분야의 전문가들이 모이는 중요한 모임으로, 과학계에 기여한 최신 발전과 업적을 소개하고자 합니다. 올해는 특히 많은 기대를 모았던 AMBER 시리즈의 업그레이드 버전인 TESCAN AMBER 2를 공개하게 되어 매우 기쁩니다.
현미경의 미래를 경험하세요
521번 부스에서 TESCAN AMBER 2, TESCAN 클라라, TESCAN 텐서, TESCAN 마이크로-CT를 포함한 데모 시스템을 만나보세요.
전문가 팀이 라이브 데모를 제공하고 질문에 답변하며 혁신적인 솔루션으로 연구 개발 워크플로를 개선하는 방법에 대해 논의할 수 있습니다.
테스칸 앰버 2 공식 출시
M&M 2024에서 테스캔 앰버 2의 공식 출시를 발표하게 되어 기쁘게 생각합니다. 출시 행사는 7월 29일에 저희 부스(521번)에서 열릴 예정입니다.
이 첨단 FIB-SEM 시스템의 개발자를 직접 만나 그 기능을 살펴볼 수 있는 기회입니다. AMBER 2는 포괄적인 시료 전처리 및 특성 분석을 위한 탁월한 속도, 정밀도 및 다용도성을 제공합니다.
최신 도구를 살펴보세요: 테스캔 아우라 젠틀 이온 빔™ 및 TEM 오토프렙 프로™
AMBER 2와 함께 TEM 샘플 준비를 개선하기 위해 설계된 두 가지 새로운 도구를 소개합니다:
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테스칸 아우라 젠틀 이온 빔™: 이 시스템은 TEM 시편 준비에서 갈륨 FIB로 인한 손상을 최소화하여 비정질화 손상을 최소화하고 시료의 결정 구조를 보존합니다.
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테스캔 템 오토프렙 프로™: 이 소프트웨어는 전체 TEM 시료 전처리 프로세스를 자동화하고 최적화하여 무인 야간 실행 중에 밀링, 리프트 아웃, 트리밍 및 연마와 같은 작업을 수행하여 생산성을 높입니다.
과학 프레젠테이션 참석하기
저희 팀은 컨퍼런스 기간 동안 여러 과학적 공헌을 발표할 예정입니다. 이 세션에 참석하여 새로운 인사이트를 얻고 현미경 및 미세 분석의 최신 발전에 대해 알아보세요:
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원자 정보 및 밀도 지도를 검색하는 광물의 스펙트럼 마이크로-CT 이미징
날짜 및 시간: 2024년 7월 29일 월요일, 오후 3:00 - 5:00
위치 전시장 포스터 보드 7
발표자 웨슬리 드 보에버, 박사
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타임픽스3 기반 픽셀화된 검출기를 사용하는 전자 현미경 스캐닝을 위한 새로운 완전 통합형 개폐식 4D STEM 검출기
날짜 및 시간: 2024년 7월 29일 월요일, 오후 3:00 - 5:00
위치 전시장 포스터 보드 ?
발표자 라스티슬라브 모투즈
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형성 및 가열 중 배터리 전해질 거동: 고해상도 및 동적 마이크로CT를 사용한 새로운 통찰력
날짜 및 시간: 2024년 7월 30일 화요일, 오전 11:45 - 오후 12:00
Location: 헌팅턴 컨벤션 센터 19호실
발표자 크세니자 니콜릭, Ph.D.
고객 서비스 팀과의 미팅 예약하기
컨퍼런스 기간 내내 고객 서비스 팀이 고객의 구체적인 요구 사항과 TESCAN의 솔루션이 고객의 연구 개발 노력을 어떻게 지원할 수 있는지 논의할 수 있습니다.
M&M 2024 방문을 최대한 활용하려면 저희 팀과 미팅 일정을 잡으세요.
521번 부스 방문
부스를 방문하여 데모 슬롯을 예약하고 TESCAN AMBER 2와 새로운 도구에 대해 자세히 알아보세요. 전문가와 소통하고 TESCAN이 현미경 및 미세 분석 분야를 어떻게 발전시키고 있는지 직접 확인할 수 있는 이 기회를 놓치지 마세요.
테스칸 앰버 2와 새로운 도구에 대한 자세한 내용은 웹사이트( https://info.tescan.com/matsci-fib-sem/tescan-amber-2)에서 확인할 수 있습니다.