MC2023의 성공을 위한 우리의 역할
2월 26일부터 3월 2일까지 열린 MC2023은 재료 과학, 생명 과학, 계측 및 방법 등 다양한 분야의 선도적인 전문가와 신진 연구자들이 한자리에 모인 행사였습니다. 이 행사는 최신 동향에 대해 논의하고 새로운 발견을 모색할 수 있는 플랫폼을 제공했습니다.
테스칸은 "전기화학 재료와 그 상간 평가에서 전자현미경 및 집속 이온빔 특성화 방법의 역할"이라는 제목으로 60분간 포괄적인 강연을 진행했습니다. 이 프레젠테이션에서는 배터리 재료 분석 개선에 대한 TESCAN의 공헌을 강조했습니다.
또한 배터리 기술 분석에 중요한 도구인 AMBER X 플라즈마 FIB-SEM을 집중 조명하는 두 개의 부스를 선보였습니다. 통합 ToF-SIMS 솔루션이 탑재된 AMBER X는 테스칸이 이 분야에서 이룩한 발전을 보여줬습니다.
MC2023 청중에게 감사하는 마음
행사 기간 동안 행사장을 찾아 배터리 발전을 위한 솔루션을 살펴보고 참여해주신 모든 분들께 진심으로 감사드립니다.
AMBER X 플라즈마 FIB-SEM 및 기타 TESCAN 솔루션에 대해 자세히 알아보려면 당사 웹사이트를 방문하십시오. 다가오는 이벤트와 TESCAN의 발전에 대한 더 많은 업데이트를 기대해 주세요!
