고급 재료 특성화 기법: 이스탄불 공과대학교의 TESCAN

첨단 재료 특성화 기법에 대한 실습 워크숍인 SEM, FIB-SEM, STEM 및 MicroCT에 참여하게 되어 매우 기쁩니다. 재료 과학의 경계를 넓히는 연구자와 과학자를 위해 마련된 이 워크숍은 2024년 5월 29일 수요일 이스탄불 공과대학교에서 개최됩니다.

이 프로그램에는 토마스 사모르질 박사 , 다니엘 네메첵 박사 등 저명한 연사들이 참여하여 상관관계 FIB-SEM 특성화 및 첨단 현미경을 이용한 나노 규모 특성화 등의 주제를 다룰 예정입니다.

프로그램을 간략히 소개합니다:

• 09:00-09:30: 환영 연설
• 09:30-10:30: 재료 과학 연구 발전을 위한 상관적 FIB-SEM 특성 분석 - Tomáš Šamořil 박사
• 10:30-11:00: 커피 브레이크
• 11:00-12:00: 최신 멀티모달 분석 STEM 현미경으로 나노 스케일로 재료의 특성화 추진 - Daniel Němeček 박사
• 12:00-13:00: 점심 시간
• 13:00-14:00: 배터리 개발 및 재료 과학의 구조 및 구성 분석을 위한 고급 3D 및 4D 이미징 - 웨슬리 드 보에버(Wesley De Boever) 박사
• 14:00-14:30: 커피 브레이크
• 14:30- 15:30: TOF-SIMS가 통합된 FIB-SEM을 사용한 리튬 이온 배터리 재료의 표면 및 표면 아래 특성 분석 - Tomáš Šamořil 박사
• 15:30-16:30: 질문 및 답변

더 자세히 알고 싶으신가요?
자세한 프로그램과 연사 정보를 보려면 이 링크를 클릭하세요! https://docs.google.com/forms/d/1Mk9LwrOHXN5nrpBrw65A_HW20IA_SUl3xHhnTlLUgnI/viewform?pli=1&pli=1&edit_requested=true

이 워크숍은 연구자들이 획기적인 재료 특성화 기술에 대한 통찰력을 얻을 수 있는 귀중한 플랫폼이 될 것입니다. 이 분야에서 토론과 협업을 촉진할 수 있기를 기대합니다!